GB/T 38532-2020.Microbeam analysis-Electron backscatter diffraction-Measurement of average grain size.

1范围

GB/T 38532规定了用电子背散射衍射法(EBSD)对抛光截面进行平均晶粒尺寸的测定方法,包含与晶体试样中的位置相关的取向.取向差和花样质量因子的测量要求1。

注1;使用光学显微镜测定品粒尺寸已为大家普遍接受,与其相比.EBSD具有很多技术优势，如高的空间分辨率和晶粒取向的定量描述等。

注2:该方法还可用于一些复杂材料(如双相材料)的品粒尺寸测量。

注3:对变形程度较大的试样进行分析时,需谨慎处理结果。

2规范性引用文件

下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。

ISO 16700微束分析 扫描电镜 图 像放大倍数校准通则(Microbeam analysis-Scanning eletron microscopy- Guidelines for calibrating image magnification)

ISO/IEC 17025检测和校准实验室能力的通用要求(General requirements for the competence of testing and calibration laboratories)

ISO 21748在测量不确定度评估中可重复性、再现性和正确性评估的使用指南(Guidance for the use of repeatability , reproducibility and trueness estimates in measurement uncertainty estimation)

ISO 23833微東分析 电 子探针显微分析( EPMA)术语[ Microbeam analysis-Electron probe microanalysis (EPMA)-Vocabulary]