（免费下载）GB/T 20111.3-2016 电气绝缘系统 热评定规程 第3部分:包封线圈模型的特殊要求 散绕绕组电气绝缘系统(EIS)
1 范围
1 范围
GB/T 20111的本部分规定了用于评定包封散绕绕组EIS的包封线圈模型(ECM)。
2 规范性引用文件
2 规范性引用文件
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IEC 61857-1：2004 电气绝缘系统 热评定规程 第1部分：通用要求 低压(Electrical insulation systems-Procedures for thermal evaluation-Part 1：General requirements-Low-voltage)
3 术语和定义
3.1 包封剂 encapsulant
除和外部的连接外完全包住线圈的电气绝缘材料，也是电气绝缘系统的组分之一。
注：包封线圈模型不使用附件外壳。
3.2 包封 encapsulation
使用包封剂的工艺过程。
注：根据评定电气绝缘系统的需要，工艺过程可由注塑、压铸、浇注或其他方法组成。
3.3 线圈架 bobbin
绕制线圈的模具。
3.4 线圈 coil
连续缠绕的绝缘导线。
3.5 线圈间绝缘 coil-to-coil insulation
线圈间的电气绝缘材料。
3.6 接地 ground
在系统、装置或设备中的某点和大地之间的电气连接。
3.7 对地绝线 ground insulation
线圈和接地之间的电气绝缘材料。
4 结构
4.1 概述
ECM适用于评定在待评EIS中所使用EIM的相容性，要能够模拟实际制造过程的影响，例如绕线工艺、接线工艺和封装工艺。
ECM的主要部件是线圈架、绕组线、连接线和包封剂。
绕组线可以连接到穿过包封壁的接线柱或引接线上。
4.2 ECM组分
包封线圈模型组分包括如下几部分：
a）线圈：可由两股线并绕（双股绕制）或单股绕制；
b）电磁线：厚膜涂敷的绕组线，线径优先使用0.4mm～0.6mm；
c）对地绝缘：线圈架所用的EIM和具有线圈-对地绝缘功能的作为包封剂的EIM。只作为线圈架绝缘评定过的EIM不能同时作为包封材料使用，作为包封剂使用的EIM同样要被评定；
d）电工带：除非承受电应力并进行评定，否则电工带不能作为EIS的部件；
e）连接线：在包封剂内部，连接至接线柱或引接线的绕组线，是ECM的基本部件；
f）电气浸渍树脂/漆：若在包封工艺之前使用，是EIS的部件。
注：若与试品合为一体的金属框架或叠片不具有失效路径功能，则它不是试品的基本部件。
4.3 组装ECM
ECM的组装如下：
a）用公认的绕线工艺将绕组线绕制在线圈架上；
b）使用电工绑扎带或其他组件在适当位置固定绕组线；
c）把绕组线连接到接线柱或引接线上；
d）若是待评EIS的部件，则用浸渍树脂/漆处理；
e）使用包封材料。
4.4 基准ECM和待评ECM的相似性
基准ECM和待评ECM的外形和组装应相似。最基本的是基准ECM和待评ECM用的绕组线之间的线径误差不超过±0.2mm。更多信息参见附录A。应按照IEC 61857-1：2004中7.4，在报告中详细说明基准ECM和待评ECM的结构。
5 试品数量
5 试品数量
每种EIS在每一老化温度点的试品数量应至少10个。
6 试验规程
6.1 概述
所有试品应经过初始筛选试验，然后按照以下顺序进行反复循环的分周期耐热性试验：
a）热老化分周期；
b）按顺序进行的预诊断机械应力、其他预诊断要求和潮湿曝露的分周期；
c）介电诊断试验。
7 寿命终点判定
7 寿命终点判定
单个试样的寿命终点判定应是ECM承受表2所示电压在规定的时间周期内发生失效。应确定失效原因。若失效发生在EIS内部，则ECM不再进行下一步试验。若失效未发生在EIS内部，且能进行不影响EIS的修理，则ECM可重试，若通过则返回试验。
8 分析、报告和分级
8 分析、报告和分级
分析、报告和分级应按照IEC 61857-1：2004的第7章。
附录A 基准试样和待评试样的相似性
附录A
（资料性附录）
基准试样和待评试样的相似性
本部分集中对试品的研究遵循一种经济的方法。本部分主要关注的是试图规定专一的或优选尺寸的试品可能导致的昂贵费用。这些建议要求公司在模具上做出较大的经济投资，而且很可能该模具只能用于评定待评EIS的试品制作，而不能作为最终用途设备。这不是一个可接受的方法。
经验表明，对评定待评包封ESI感兴趣的公司能提供便于使用的并可接受的试品模具。为了保持合理的试验费用，本部分已认识到并支持在试品设计上要有灵活性。
另外，所有按照GB/T 20111进行的EIS批评定是在基准EIS和待评EIS间进行相对比较。若两种EIS的设计相似，就可达到对比的目的。因此，对试品结构的物理形状和装配上的陈述应彼此相似，要考虑到不同壁厚、不同结构的线圈架壁和/或不同种类的包封剂的评定。
经验还表明，因为介电耐压应力是恒定的，线规的显著差异会改变给定老化温度下的寿命。在试验规程中介电耐受应力和给定老化温度下的寿命小时数之间必定是相关的。据此，本部分中包含的导则建议当基准EIS和待评EIS所用的电磁线之间的线径不同时，所用的线径彼此间差值应在0.2mm以内。
