（免费下载）GB/T 32872-2016 空间科学照明用LED筛选规范
1 范围
1 范围
本标准规定了空间科学照明用LED(Light Emitting Diode)筛选项目和程序、筛选方法、参数测量和合格判定。
本标准适用于空间科学照明用额定功率1W和1W以上封装的单芯LED的筛选，其他功率级别的LED也可参照执行。
2 规范性引用文件
2 规范性引用文件
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GB/T 24824-2009 普通照明用LED模块测试方法
GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法
GJB 4027 军用电子元器件破坏性物理分析方法
3 总则
3.1 被筛选器件应按产品规范或技术协议的要求进行参数初测，合格的器件可参加筛选。筛选按规定的项目和程序进行，完成每个项目之后，剔除不合格产品。
3.2 被筛选器件应逐个编号，并在每次测试时记录测试数据。筛选结束后，应编写筛选统计表，格式参见附录A，器件的参数测试数据可作为筛选报告的附件。
3.3 测试如有异常，应记录异常的发生时间和器件编号。
3.4 当筛选剔除率超过20%时，应判批次不合格。当出现功能失效时，应按照GJB 4027进行失效分析，如属于材料或工艺因素的非偶然性失效也应判批次性不合格。
4 筛选项目和程序
4 筛选项目和程序
筛选按表1规定的项目和程序进行，完成每个项目之后，剔除不合格产品。
表1 筛选项目和程序
5 筛选方法
5.1 外观检查
常温下，用10倍放大镜检查器件的外观质量，不得存在下列缺陷：
a) 管壳和管脚锈蚀，根部有明显硬伤；
b) 透镜破碎、有裂纹，或有气泡、异物；
c) 标识不清；
d) 变形、污损、划痕等外观缺陷。
5.2 参数测量
按6.1、6.2和6.3进行参数测量，所测参数应满足产品规范或技术协议的要求。
5.5 密封性检查
适用于空封器件，无空腔的器件可免做。
内腔体积不大于1cm3用细检漏法，按GJB 128A-1997 1071细检漏条件H1或H2。内腔体积不大于0.3cm3，最大泄漏率5×10-3Pa·cm3／s，内腔体积大于0.3cm3，最大泄漏率5×10-2Pa·cm3／s。
内腔体积大于1cm3用粗检漏法，按GJB 128A-1997 1071粗检漏筛选条件C。
试验结束剔除不合格器后，按6.4.2进行合格判定。
5.11 参数终测
所有试验完成后，按6.1、6.2和6.3进行参数终测，所测参数应满足产品规范或技术协议的要求。
6 参数测量和合格判定
6.1 测量条件
参数测量应在下列环境进行：
a) 温度：25℃±1℃；
b) 相对湿度：30%～65%；
c) 气压：86kPa～106kPa；
d) 测试应在稳定状态下进行，稳定状态为在15min内，光通量或光强变化小于0.5%。
6.2 测试参数
主要测试参数如下：
a) 正向电压VF；
b) 法向光强IV；
c) 反向漏电流IR；
d) 反向击穿电压VR；
e) 光谱；
f) 色温；
g) 显色指数；
h) 光通量；
i) 热阻。
根据使用要求可对测试参数进行删减。
附录A 空间科学照明用LED筛选统计表
附 录A
（资料性附录）
空间科学照明用LED筛选统计表
表A.1为空间科学照明用LED筛选统计表。
